HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀

產品介紹

HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。

無接觸式電阻率型號測試儀-產品特點

測試范圍廣，低阻可測至0.001ohmNaN，甚至0.0007ohmNaN,高阻可測至100ohmNaN

產品體積小，便于移動和攜帶

采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率

無接觸、無損傷快速測試

測試前無需表面處理

特別對于多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響

測試范圍：0.001-100 ohmNaN (分段測試）

可選加無接觸PN型號測試功能

可進行溫度和厚度的修正

無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標

硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100OhmNaN

最小測試厚度：200μm

測量時間：2秒/次

最小測試面積：30x30 mm2

推薦使用溫度：20

濕度：80%

氣壓：86-106kPa

使用電壓：230±10V

頻率，50±3Hz

功率消耗：5W

尺寸（LxWxH）：280x200x60mm

典型客戶

美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。